專注于晶圓測試探針卡研發制造

高同測 高速 高頻 測試探針卡

High Parallel  High Speed High Frequency Probe Cards

 

 

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晶圓級探針卡WLCSP-PC01

晶圓級探針卡 Vertical - S PC

SINOWINTM  盛華科技提供高性價的超微小Pitch測試探針與WLCSP(晶圓級) Probe Cards,滿足在微小pitch 晶圓級測試使用需求.
   

Pitch

0.15mm,0.2mm, 0.25mm, 0.30mm, 0.35mm, 0.40mm

Material

Pd/Ag/Cu 、BeCu,、Hard Carbonsteel.etc.

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